ROI增强光学干涉技术赋能，探秘SpecMetrix FWS膜重测试站的多行业应用
在现代制造中，膜重与涂层厚度的控制至关重要。工业物理旗下，SpecMetrix® FWS膜重测试站作为一款先进的非接触式测量设备，采用了独特的ROI增强光学干涉技术，为用户提供亚微米级精度的涂层和膜重检测。与传统测量方法相比，系统不仅精确度更高，还能大幅降低人工测量误差，提高了测量效率。
SpecMetrix® 膜重测试站提供了非接触、非破坏性、实时的离线厚度测量测试，适用于涂层样品和平板薄膜。膜重测试站具有高度精确和快速的特点，通过单点和扫描模式进行厚度测试。
此外，它还可以在实验室或涂布线上对干涂层薄膜或卷带进行自动化的长度和宽度扫描测量。点击下方视频，了解关于SpecMetrix® 膜重测试站的使用——
SpecMetrix FWS ：亮点及技术优势
✨ ROI增强光学干涉技术
得益于ROI增强光学干涉技术，SpecMetrix FWS膜重测试站能够测量湿样或干样，以及透明或有色着色基材。
当然，该技术也非常安全——无放射性和无侵入性。SpecMetrix专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在涂层行业中广泛应用。
✨ 无损、非接触式测量
✨ 高效测量，降本增效
此外，SpecMetrix的软件还包括一个配方助手，帮助操作员创建新的涂层配方并编辑现有配方，大大提高测量效率。
当然，最重要的，通过精确控制膜厚，能够减少涂料浪费，帮助企业降低生产成本，提高投资回报率。
SpecMetrix FWS ：多行业应用探秘
✨ 金属制造与包装行业
✨ 汽车制造与锂电池行业
✨ 塑料和薄膜行业
ROI光学干涉技术赋能：FWS膜重测试站
SpecMetrix FWS膜重测试站以其独特的ROI增强光学干涉技术、非接触检测、高精度和高效率的优势成为多个行业的信赖选择。对于任何需要严苛控制涂层厚度和膜重的行业，SpecMetrix FWS膜重测试站都能助您一臂之力，提升产品质量，确保您的实验室高效测量，更确保您的生产线运行稳定、高效。
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