描述

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix® DFTQA系统为干膜厚度提供了一个全新的非接触、非破坏性和实时绝对测量数据标准。无论是底漆、面漆、透明或着色样品，我们的DFTQA系统都能让您获得详细的涂层测量数据和分析。

简化质量控制流程

SpecMetrix® DFTQA系统专为简化干膜厚度的质量控制流程而设计，它是我们在卷材涂层实验室测量中首选的工具之一，具有亚微米级精度。它利用我们独有的技术来改进涂层工艺和质量控制，同时减少质量控制实验室或研发中心的成本。

DFTQA系统加速了离线样品测试，受到多个行业和应用中质量控制实验室的信赖。

多功能测量能力

SpecMetrix® DFTQA系统是用于干膜厚度分析的极其多功能的系统：

• 分析干涂层
• 清晰、有色或着色涂层
• 可测量底漆、底涂层、面漆、清漆、背涂层、层压膜、透明涂层及其他卷材涂层（包括聚酯、环氧树脂、纹理、金属化和PVDF）
• 适用于任何金属基材上的涂层，包括铝、钢、镀锡、冷轧镀铝锌钢板，甚至任何油漆颜色上的涂层
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或离散层，精度达到亚微米级
• 双重功能 – 单个系统配置包括两个光学组件

高精度和可重复性

使用SpecMetrix® DFTQA，您可以对质量控制和质量保证数据更加有信心。其测量精度不受操作员技能或人为误差的影响，使用户能够获得更高的重复性和再现性。

完整的涂层洞察

凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以通过非接触和非破坏性手段获得详细的干膜厚度测量数据。

该技术极其精确，能为用户提供其涂层的真实图像。DFTQA系统允许用户获取整个样品区域的准确涂层厚度和干膜厚度测量，而不是仅限于代表性较差的孤立测量点。

此外，单个系统配置可以包括双重光学组件，使用户能够更快地测量底漆和面漆。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在涂层行业中广泛应用。

强大的SensorMetric软件

作为测量分析的核心部分，我们用户友好的软件包将所有测量数据存储到Excel®中，或与工厂网络接口，以便在生产运行期间或之后进行SPC分析。

此外，我们的软件还包括一个配方助手，帮助操作员创建新的涂层配方并编辑现有的配方和配方方案。