请更新浏览器版本,例如:
产品询价购物车
我感兴趣的产品
SpecMetrix®离线系统为非接触、非破坏性薄膜层和涂层质量分析树立了更高标准。全球众多行业领先企业选择我们的技术作为优先的检测工具,凭借其纳米级精度识别和量化极薄涂层或膜层缺陷的独特能力。
经过验证,系统测量精度提升达500%,显著减少浪费,帮助您彻底革新卷材涂层工艺,实现可观的成本节约。
SpecMetrix实验室系统能够对单层或双层涂层,以及平板样品和组件上的分层膜层进行同步测量。超高精度、即时测量大幅加快样品检测数据采集速度。
所有离线系统均支持湿膜与干膜测量,适应从实验室到生产车间的各类环境,轻松实现涂层重量与绝对厚度的精准检测。
实验室系统设计便于在不同涂层生产线或工位间移动,非接触式单点及扫描测量功能可直接赋能生产及工艺团队。
增强型实验室系统(Enhanced Lab)结合了在线测量软件与坚固探头,实现离线样品检测与在线工艺验证的完美结合,优化涂层质量管理。
特别适用场景包括:
试验生产线
质量测试设施
高频更换工艺环境
配备ACS附件的SpecMetrix实验室系统为金属包装行业提供涂层与膜重量的测量与映射,涵盖所有内外层涂层。支持单罐或多罐(10-12罐)自动化检测,模块化设计适配多种自动化输送、扫描及工艺控制设备。
SpecMetrix系统确保进料检测流程高效可靠,无论是基材还是涂层,都能利用非接触ROI测量技术即时发现不合格或异常情况。
对于合作包装企业(Co-packing),我们系统提供卓越的准确性,确保最终产品涂层符合规范。众多全球顶尖企业均依赖SpecMetrix完成质量保证及合作包装检验。
SpecMetrix离线工具助力成品QA检验,显著提升涂层及膜层分析质量。直观的软件界面简化分析流程,支持用户自定义涂层选项并即时加载相关功能。提供二维及三维涂层厚度及膜重量分布的可视化分析。
系统支持灵活升级,模块化设计方便未来升级为Enhanced Lab增强型实验室系统或In-line在线系统,满足更高层次工艺监控需求。
更精准的数据保障客户投诉防范。超精确绝对厚度数据支持轻松存储及导出至SPC系统,助力质量索赔分析与膜重取证,达到前所未有的准确度与可靠性。
节省材料与人力成本效果显著。离线实验室系统快速实现价值回报,平均六至九个月达到完全投资回报,同时提升整体成品质量。
欢迎联系工业物理,了解更多SpecMetrix产品信息与定制解决方案。我们的专业团队期待为您的质量保证提供强大支持!
SpecMetrix 提供独家的在线涂层厚度测量系统,适用于涂层和生产线。这些系统旨在提供应用涂层的非接触、非破坏性和实时厚度测量。
SpecMetrix 能够为 OEM 提供定制涂层测量解决方案。与我们讨论您对定制非接触式、非破坏性和实时涂层厚度测量解决方案的需求。