描述

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix® DFTQA系统为干膜厚度提供了一个全新的非接触、非破坏性和实时绝对测量数据标准。无论是底漆、面漆、透明或着色样品，我们的DFTQA系统都能让您获得详细的涂层测量数据和分析。

简化质量控制流程

SpecMetrix® DFTQA系统专为简化干膜厚度的质量控制流程而设计，它是我们在卷材涂层实验室测量中首选的工具之一，具有亚微米级精度。它利用我们独有的技术来改进涂层工艺和质量控制，同时减少质量控制实验室或研发中心的成本。

DFTQA系统加速了离线样品测试，受到多个行业和应用中质量控制实验室的信赖。

多功能测量能力

SpecMetrix® DFTQA系统是用于干膜厚度分析的极其多功能的系统：

• 分析干涂层
• 清晰、有色或着色涂层
• 可测量底漆、底涂层、面漆、清漆、背涂层、层压膜、透明涂层及其他卷材涂层（包括聚酯、环氧树脂、纹理、金属化和PVDF）
• 适用于任何金属基材上的涂层，包括铝、钢、镀锡、冷轧镀铝锌钢板，甚至任何油漆颜色上的涂层
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或离散层，精度达到亚微米级
• 双重功能 – 单个系统配置包括两个光学组件

高精度和可重复性

使用SpecMetrix® DFTQA，您可以对质量控制和质量保证数据更加有信心。其测量精度不受操作员技能或人为误差的影响，使用户能够获得更高的重复性和再现性。

完整的涂层洞察

凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以通过非接触和非破坏性手段获得详细的干膜厚度测量数据。

该技术极其精确，能为用户提供其涂层的真实图像。DFTQA系统允许用户获取整个样品区域的准确涂层厚度和干膜厚度测量，而不是仅限于代表性较差的孤立测量点。

此外，单个系统配置可以包括双重光学组件，使用户能够更快地测量底漆和面漆。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在涂层行业中广泛应用。

强大的SpecMetrix软件

SpecMetrix配套的软件功能强大，用户界面友好。所有实时测量数据可存储至Excel®文件，或直接对接工厂网络系统，实现生产过程中的SPC统计过程控制分析。每一批次的测量数据都可以形成完整的质量控制记录，便于应对后续的质量查询或索赔问题。

可选的系统配置

请立即联系我们，与应用专家团队探讨您的需求。无论您的生产线多么复杂或多样化，我们都能为您推荐合适的在线测量系统。此外，我们也可以为您提供精准、快速的离线样品检测方案。

如何通过系统收集数据？

SpecMetrix专利技术（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）支持在涂覆过程中实时采集厚度数据，从而帮助您在生产过程中即时调整，优化工艺参数。

实时数据采集的优势是什么？

实时采集数据可以显著减少油漆和材料浪费，使涂布应用更加精准，大幅降低生产成本。

其他企业是否通过我们的系统节省了成本？

是的！我们的创新技术已帮助众多客户取得了卓越的节约成果，例如：

• 底漆和背涂工序仅通过系统导入即实现了15%油漆消耗减少

• 单独在背涂工序实现整体成本节约30%

• 单独在底漆工序每月节省超过50,000美元

• 其中一家客户通过导入SpecMetrix技术，年节省成本达240万美元

客户案例分享：SpecMetrix解决方案助力卷材涂布客户实现强劲投资回报

了解我们的创新解决方案如何帮助卷材涂布行业客户显著提升投资回报率，助推企业成功。