描述

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix®增强型实验室系统为用户提供高标准的非接触、非破坏性和实时的绝对厚度测量数据，适用于已应用的涂层和涂覆层。

简化质量控制流程 – 适用于离线和在线！

SpecMetrix®增强型实验室涂层厚度测量系统旨在简化质量控制流程，无论是在实验室环境中的离线样品测试，还是与周期性在线涂层验证结合使用。它能够帮助用户防止成千上万英尺的有缺陷材料，节省时间和成本。

· 离线测量：可通过单点和扫描模式进行。

· 周期性在线测量：通过使用带有坚固探头的磁性臂进行。

SpecMetrix增强型实验室系统通过提高对多种基材的检查，优化了涂层工艺和质量控制，非常适合试验线、测试设施和频繁换型的环境。它是多个行业的质量控制实验室和生产线中信赖的系统之一，提供亚微米级精度的绝对涂层厚度数据。

多功能测量能力

SpecMetrix®增强型实验室系统是一个极其多功能的系统，允许用户测量几乎任何涂层或涂覆层。

• 湿涂层或干涂层
• 清晰、着色或有色涂层
• 适用于任何基材的涂层，几乎适用于任何行业，包括柔性包装、汽车、工业和金属包装
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或多层膜层，精度达到亚微米级
• 模块化设计，具备从离线质量控制测试到部分在线测量的即时测量能力
• 系统可全面升级为永久在线系统，用于连续在线使用

按需配置

SpecMetrix增强型实验室系统相较于其他实验室工具具有显著优势。该系统配备一个坚固的探头，可轻松安装在任何涂布机或复合机上，并配有SpecMetrix在线测量软件，结合了实时离线质量控制样品测试的优势以及在试验线或涂层线上快速设置和质量检查。

模块化设计使得重新配置变得简单。该系统可以全面升级为永久在线系统配置，适用于连续在线使用。

完整的涂层洞察

凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以获得样品的完整涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。

该技术也很安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在整个涂层行业中得到广泛应用。

强大的SpecMetrix软件

SpecMetrix配套的软件功能强大，用户界面友好。所有实时测量数据可存储至Excel®文件，或直接对接工厂网络系统，实现生产过程中的SPC统计过程控制分析。每一批次的测量数据都可以形成完整的质量控制记录，便于应对后续的质量查询或索赔问题。

可选的系统配置

请立即联系我们，与应用专家团队探讨您的需求。无论您的生产线多么复杂或多样化，我们都能为您推荐合适的在线测量系统。此外，我们也可以为您提供精准、快速的离线样品检测方案。

如何通过系统收集数据？

SpecMetrix专利技术（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）支持在涂覆过程中实时采集厚度数据，从而帮助您在生产过程中即时调整，优化工艺参数。

实时数据采集的优势是什么？

实时采集数据可以显著减少油漆和材料浪费，使涂布应用更加精准，大幅降低生产成本。

其他企业是否通过我们的系统节省了成本？

是的！我们的创新技术已帮助众多客户取得了卓越的节约成果，例如：

• 底漆和背涂工序仅通过系统导入即实现了15%油漆消耗减少

• 单独在背涂工序实现整体成本节约30%

• 单独在底漆工序每月节省超过50,000美元

• 其中一家客户通过导入SpecMetrix技术，年节省成本达240万美元

客户案例分享：SpecMetrix解决方案助力卷材涂布客户实现强劲投资回报

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