描述

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix®增强型实验室系统为用户提供高标准的非接触、非破坏性和实时的绝对厚度测量数据，适用于已应用的涂层和涂覆层。

简化质量控制流程 – 适用于离线和在线！

SpecMetrix®增强型实验室涂层厚度测量系统旨在简化质量控制流程，无论是在实验室环境中的离线样品测试，还是与周期性在线涂层验证结合使用。它能够帮助用户防止成千上万英尺的有缺陷材料，节省时间和成本。

· 离线测量：可通过单点和扫描模式进行。

· 周期性在线测量：通过使用带有坚固探头的磁性臂进行。

SpecMetrix增强型实验室系统通过提高对多种基材的检查，优化了涂层工艺和质量控制，非常适合试验线、测试设施和频繁换型的环境。它是多个行业的质量控制实验室和生产线中信赖的系统之一，提供亚微米级精度的绝对涂层厚度数据。

多功能测量能力

SpecMetrix®增强型实验室系统是一个极其多功能的系统，允许用户测量几乎任何涂层或涂覆层。

• 湿涂层或干涂层
• 清晰、着色或有色涂层
• 适用于任何基材的涂层，几乎适用于任何行业，包括柔性包装、汽车、工业和金属包装
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或多层膜层，精度达到亚微米级
• 模块化设计，具备从离线质量控制测试到部分在线测量的即时测量能力
• 系统可全面升级为永久在线系统，用于连续在线使用

按需配置

SpecMetrix增强型实验室系统相较于其他实验室工具具有显著优势。该系统配备一个坚固的探头，可轻松安装在任何涂布机或复合机上，并配有SpecMetrix在线测量软件，结合了实时离线质量控制样品测试的优势以及在试验线或涂层线上快速设置和质量检查。

模块化设计使得重新配置变得简单。该系统可以全面升级为永久在线系统配置，适用于连续在线使用。

完整的涂层洞察

凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以获得样品的完整涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。

该技术也很安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在整个涂层行业中得到广泛应用。

强大的SensorMetric软件

作为测量分析的核心部分，我们用户友好的软件包将所有测量数据存储到Excel®中，或与工厂网络接口，以便在生产运行期间或之后进行SPC分析。