描述

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix®膜重测试站提供了非接触、非破坏性、实时的离线厚度测量测试，适用于涂层样品和平板薄膜。膜重测试站具有高度精确和快速的特点，通过单点和扫描模式进行厚度测试。

此外，它还可以在实验室或涂布线上对干涂层薄膜或卷带进行自动化的长度和宽度扫描测量。

简化质量控制流程

SpecMetrix®膜重测试站旨在简化质量控制测试，并改善对膜重和涂层厚度的过程控制。由于其无与伦比的能力，能够以亚微米级精度识别和量化绝对膜重厚度，它是我们首选的实验室测量工具之一。

膜重测试站系统加速了离线薄膜测试，并改善了来料和成品检验。

多功能测量能力

SpecMetrix®膜重测试站提供可靠且可重复的测量：

• 精确快速地分析膜重
• 非接触、非破坏性测量 – 确保样品的完整性
• 测量湿样或干样，以及透明或有色着色基材
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，精度可达到亚微米级

完整的涂层洞察

SpecMetrix®膜重测试站提供了可靠性和可重复性，允许用户获取准确的涂层测试数据和质量控制。

凭借SpecMetrix的精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以为其产品和样品获取完整的膜重和涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。

该技术也非常安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在涂层行业中广泛应用。

强大的SpecMetrix软件

SpecMetrix配套的软件功能强大，用户界面友好。所有实时测量数据可存储至Excel®文件，或直接对接工厂网络系统，实现生产过程中的SPC统计过程控制分析。每一批次的测量数据都可以形成完整的质量控制记录，便于应对后续的质量查询或索赔问题。

可选的系统配置

请立即联系我们，与应用专家团队探讨您的需求。无论您的生产线多么复杂或多样化，我们都能为您推荐合适的在线测量系统。此外，我们也可以为您提供精准、快速的离线样品检测方案。

如何通过系统收集数据？

SpecMetrix专利技术（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）支持在涂覆过程中实时采集厚度数据，从而帮助您在生产过程中即时调整，优化工艺参数。

实时数据采集的优势是什么？

实时采集数据可以显著减少油漆和材料浪费，使涂布应用更加精准，大幅降低生产成本。

其他企业是否通过我们的系统节省了成本？

是的！我们的创新技术已帮助众多客户取得了卓越的节约成果，例如：

• 底漆和背涂工序仅通过系统导入即实现了15%油漆消耗减少

• 单独在背涂工序实现整体成本节约30%

• 单独在底漆工序每月节省超过50,000美元

• 其中一家客户通过导入SpecMetrix技术，年节省成本达240万美元

客户案例分享：SpecMetrix解决方案助力卷材涂布客户实现强劲投资回报

了解我们的创新解决方案如何帮助卷材涂布行业客户显著提升投资回报率，助推企业成功。