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产品介绍
技术参数
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新的 SEAMscan XTS III 第 3 代 XTS 是一个独立的测量系统，可为圆形罐（铝或钢）提供无损二重卷封检测。 该系统执行无损横截面测量和 360° 紧密度扫描。 该系统提供更快的检查结果，并降低了劳动力成本。
罐子被手动装载到设备中，然后自动执行所有测量。 罐头可以被保留以进行额外测试或送回生产。 XTS 的虚拟卷封拆卸技术提供高度准确的二重卷封检测数据，同时显着减少产品损坏。
XTS X射线卷封及紧密度扫描仪系列，独家专利产品
SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪是一款全新的，无损伤且独立运行的二重卷封和卷封紧密度检测仪器。卷封结构原自然状态检测，系统提高精度，节约时间，节省大量的检测成本。
专为制罐商和罐装厂打造的SEAMscan XTS™拥有高分辨率的卷封检测和功能强大的紧密度自动检测系统，仪器结构紧凑，操作简便。
无损伤检测，节约大量的检测样品
SEAMscan XTS™不需要切割就能完整检测二重卷封内部结构尺寸。
SEAMscan XTS™仅不损伤检测样品的优势，就能为制罐商和罐装厂节约数以十万计的成本。经过二重卷封盖钩皱纹度（卷封紧密度），以及前面提到的卷封内部结构尺寸检测的产品，还能100%的用于销售。SEAMscan XTS™同时能达到FDA对二重卷检测的标准。
SEAMscan XTS也是一款能完全适应生产工厂环境的二重卷封检测工具，既实现从卷封外部评估二重卷封质量，又节约检测成本。
不再需要剥离拆卸卷封
世界首创，质检人员不再需要拆卸卷封来查看盖钩的皱纹度。SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪自动扫描全部盖钩的皱纹度，测量并报告客观的紧密度数值。
采用专利技术的SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪，无需人员参与检测，能耗更低，采用无损伤的X射线检测二重卷封内部结构。
“我们在20世纪90年代就能够通过我们的SEAMscan软件配合投影设备检测盖钩皱纹度”CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann说道,“但是那套系统仅看到从二重卷封上拆卸下来的盖钩的表面影像。XTS不单单是在不损伤卷封的情况下检测盖钩皱纹度，检测的详细程度也是比传统检测方式高出很多。”
不再评估紧密度，而是测量紧密度
人为错误已经成为过去——至少在二重卷封领域。
X射线紧密度扫描仪检测二重卷封结构尺寸，以及全球专利技术精确的测量卷封内部的皱纹度。盖钩皱纹度的检测结果会自动发送到电脑数据库，电脑可以实时显示卷封质量变化趋势分析结果。
转用的X射线穿过二重卷封，探测盖钩形状的微妙变化。电脑通过程序算法分析卷封内部各个部位的变化情况，以确定是否对卷封的密封情况造成影响。检测结果可以使紧密度百分比，亦或是皱纹度或紧密度平均值的形式显示。
通过行Virtual Seam Teardown™（卷封虚拟拆卸）功能，可以看到身钩和盖钩彼此叠接的真实情况，是以往无法想象的。
检测项目 : 卷封高度，卷封间隙，身钩，盖钩，叠接度，身钩率，迭接率，紧密度
精度 : 卷封检测
适用罐型 : 200 (52 mm)-603 (153 mm)
检测速度 : 卷封内部结构45秒/罐，全检70秒/罐
单位 : Inch, mm, %
分辨率 : 卷封
语言 : 多种语言供选择
电源 : 100-240 VAC, 50/60 Hz
检测项目 : 卷封高度，卷封间隙，身钩，盖钩，叠接度，身钩率，迭接率，紧密度
精度 : 卷封检测
适用罐型 : 200 (52 mm)-603 (153 mm)
检测速度 : 卷封内部结构45秒/罐，全检70秒/罐
单位 : Inch, mm, %
分辨率 : 卷封
语言 : 多种语言供选择
电源 : 100-240 VAC, 50/60 Hz
比传统的切割投影法更快、更安全
无产品损坏
经过验证的专利技术
360° 全测量
完整的紧密度扫描
独立测量
世界级R&R
数据自动发送到vision QC™或其他数据采集和SPC报告软件
更直观褶皱可视化图
新一代图像处理，改进了处理时间，增加了通用性、速度和精度
新型更快速、高精度X射线曝光系统
更高的电压和改进的曝光控制使系统适用于更多罐型
易于通过简化的用户界面设置和使用
大触摸屏控制系统和数据
紧凑的设计与集成PC，没有外部连接，只需要电源线
简化的用户界面和增强的结果显示
增强的多径快速夹具，可靠地处理更多的罐型
维护改进——270°通道用于维护和清洁
易于清洗，增加排水
