不再支持您的浏览器。
Internet Explorer浏览器与本网站不兼容。

请更新浏览器版本,例如:

microsoft edge

Microsoft Edge

google chrome

Google Chrome

firefox

Firefox

opera

Opera

产品询价购物车

我感兴趣的产品

您的询价购物车中目前没有产品,请继续浏览并选择更多产品。

获取报价

继续浏览

类别
品牌
行业
应用
品牌
行业 卷材及金属包装测试设备柔性包装测试设备涂料与涂层测试设备在线气体分析设备材料测试设备环境及盐雾试验箱系列酒水饮料包装测试设备纸张与纸浆测试设备万能材料试验机系列环境与温湿度测试设备
应用

从现场试样到工艺验证 | SpecMetrix 无损涂层测厚,为PCB与半导体制造提供新思路

2026年5月28日阅读时间:5 分钟

PCB

SpecMetrix

半导体行业

涂层测试

从现场试样到工艺验证 | SpecMetrix 无损涂层测厚,为PCB与半导体制造提供新思路

 

五月,工业物理先后亮相重庆与合肥两场半导体行业展会,携 SYSTECH EC913 在线微量氧分析仪SpecMetrix 亚微米级无损涂层厚度测量系统,与来自西南及华东区域的半导体上下游企业、设备供应商、PCB制造商、电子材料客户及相关科研检测机构进行了深入交流。

在重庆与合肥的展会现场,工业物理团队围绕半导体制造中的过程监控、质量保证与精密测量需求,与客户展开了许多有价值的讨论。尤其是现场展示的 SpecMetrix样机,凭借直观的测量方式、非接触式测试特点以及对实际样品的快速响应,吸引了不少专业观众驻足了解,也成为本次双城展会中非常受关注的展示亮点之一。

 

为什么PCB与半导体客户关注涂层测厚?

 

在PCB、电子制造和半导体相关工艺中,涂层并不只是表面的一层「保护膜」。无论是功能涂层、绝缘层、保护涂层,还是部分精密材料表面的涂覆工艺,其厚度均匀性与稳定性都可能影响后续加工、产品性能及长期可靠性。

对于PCB制造企业而言,涂层厚度可能关系到防护效果、绝缘性能、耐腐蚀性以及产品一致性;对于半导体及电子材料相关企业而言,薄层结构、功能涂覆和精密表面处理则往往需要更高效、更稳定的数据支持,帮助研发、质控和生产人员判断工艺是否稳定。

传统测厚方式在某些场景下可能需要接触样品,甚至需要切片或破坏样品结构。对于高价值样品、小尺寸样品或多层精密结构而言,这类方式往往并不理想。因此,越来越多客户开始关注非接触、非破坏、可快速获得数据的涂层厚度测量方案。

 

SpecMetrix 非接触、非破坏、实时测量

 

SpecMetrix亚微米级无损涂层厚度测量系统,正是面向涂层厚度和薄膜厚度测量需求而设计的专业解决方案。系统可通过非接触、非破坏的方式,对已涂覆样品进行实时厚度测量,帮助客户在不损伤样品的前提下获取关键质量数据。

在实验室场景中,SpecMetrix 实验室版涂层厚度测量系统可用于研发验证、来料检测、工艺调整与质量分析。客户可以对不同涂覆样品进行快速测试,了解涂层厚度是否符合工艺要求,并进一步分析批次间差异或工艺波动。

而在生产线场景中,SpecMetrix In-line 在线涂层测量系统则可集成至产线,用于实时监控涂层厚度变化,帮助企业更及时地发现异常,优化涂层消耗,并提升过程控制能力。

 

SpecMetrix:面向PCB与半导体的应用方向

 

结合本次重庆与合肥展会现场交流,我们发现,PCB与半导体相关客户关注SpecMetrix,并不只是因为它是一台在现场实际展示的涂层测厚仪,而是因为很多精密制造场景正在面临一个共同问题:涂层越来越薄、结构越来越复杂、样品价值越来越高,而传统接触式或破坏性检测方式,已经很难兼顾效率、稳定性与样品完整性。

在PCB制造中,SpecMetrix可重点关注三防漆、保护涂层、绝缘涂层、阻焊层及部分功能性涂覆层的厚度测量。对于电子线路板而言,涂层厚度过薄,可能影响防潮、防腐蚀和绝缘保护效果;涂层过厚,则可能带来材料浪费、固化不充分、局部堆积,甚至影响后续装配与可靠性。

尤其是在汽车电子、消费电子、工控电子等应用中,PCB需要面对湿热、温度变化、粉尘、腐蚀性环境等长期考验,因此涂层厚度的稳定控制,已经成为质量控制中非常实际的一环。PCB三防漆常用于保护线路板免受潮气、污染物和腐蚀影响,而其厚度也是评价涂层质量的重要参数之一。

在实际检测中,PCB样品往往存在铜箔、阻焊层、基材、涂层等多层结构,表面也可能存在焊盘、线路、局部高低差或不同反射特性。如果采用传统切片方式,不仅耗时,也会破坏样品;如果采用接触式测量,则可能受到测点位置、表面结构和操作手法影响。SpecMetrix的非接触、非破坏测量方式,可以帮助客户在不切割、不损伤样品的前提下,对特定区域进行快速测量,更适合用于研发验证、工艺调试、来料确认和批次抽检。

在半导体与电子材料领域,SpecMetrix还可用于显示面板相关功能涂层、电子基材表面涂层、精密部件保护涂层、工艺验证样片及功能薄膜材料的厚度分析。许多半导体和电子制造客户并不只关心「单点厚度是多少」,而是更关注涂层在不同区域是否均匀、不同批次之间是否稳定、工艺调整后厚度是否发生偏移。

SpecMetrix 可用于实验室离线检测和研发分析,帮助工程师快速判断样品涂覆状态;SpecMetrix In-line系统则可进一步集成至生产线,在涂覆过程中提供实时、非接触、非破坏的厚度数据,为过程控制和质量追溯提供支持。

 

对于PCB和半导体客户而言,SpecMetrix的应用价值可以概括为三个方面:

· 减少对切片、刮除等破坏性检测方式的依赖,保留样品完整性;

· 缩短检测与工艺反馈时间,让研发和质量人员更快判断涂层状态;

· 为涂覆工艺优化提供更直观的数据依据,帮助客户在保护性能、材料用量和生产一致性之间取得更好的平衡。

 

从现场交流出发,继续深入半导体与电子制造

 

从重庆到合肥,工业物理不仅展示了设备,更通过现场样机演示、应用沟通和客户交流,进一步了解了半导体与电子制造客户在质量控制中的真实需求。

SpecMetrix的价值,不只在于「测厚」,更在于帮助客户以更直观、更高效、更少破坏性的方式理解涂层工艺,为研发、质量控制和生产优化提供数据支持。

未来,工业物理将继续围绕半导体、PCB、电子材料及相关精密制造场景,提供覆盖过程监控、无损测量和质量保证的专业测试与测量解决方案。也欢迎更多客户携带样品,联系工业物理,与我们进一步交流SpecMetrix在实际工艺中的应用可能 ✨

 

相关新闻

五月双展启程 | 工业物理即将亮相重庆、合肥半导体展

  与工业物理相约重庆、合肥,共话半导体测试测量解决 …

5 月 7, 2026阅读时间:5 分钟

Chinaplas 2026 圆满收官!

  从材料测试到包装阻隔,从熔融指数到涂层测厚。十余 …

4 月 27, 2026阅读时间:2 分钟